“以频谱功率分布评估LED光色失效的故障预测技术报告会”在本中心举行

 2012年5月18日下午，来自（美国）电子产品及系统寿命周期工程中心主任Michael Pecht教授在佛山市香港科技大学LED-FPD工程技术研究开发中心的培训演讲厅主持了“以频谱功率分布评估LED光色失效的先进故障预测技术”为主题的技术专题报告会。

（Michael Pecht教授在讲学）

在报告中，Michael Pecht教授主要介绍了如何利用包含了LED 光学信息的频谱功率分布（SPD）来判断LED的封装成分（如固晶、荧光粉、灌封材料）是如何使LED性能下降的故障预测与状态管理方法。这种故障预测方法从LED的SPD中提取了峰面积、峰值方差、峰值相位差等新的特征参数来评估LED异常和预测剩余有效寿命。不同于目前只显示参数数值（例如光辐射和颜色参数）衰减的传统方法，该方法的优势在于不但能评估LED性能下降的物理特征，而且可以动态描述LED的性能衰减过程和处理因成品间差异所造成的不确定因素，从而鉴别出LED内部性能下降的具体部位。以频谱功率分布评估LED光色失效的故障预测技术可谓是LED可靠性评估方面的一大创新。

（报告会现场）

作为践行服务本地LED产业使命的冲锋号，本次技术专题报告会免费对外开放，吸引了来自28家企业、协会、联盟等100多位参会者。Pecht 教授是世界著名的电子产品及系统方面关于战略规划、设计、测试、专利和风险评估的专家，曾因在故障预测与系统状态管理方面的创新成果荣获2010 年电气与电子工程师学会（IEEE）颁发的“卓越技术成就奖”。Pecht 教授逻辑清晰、形象生动的演讲及中心主任李世玮教授深入浅出的中文解说，令听众对以频谱功率分布评估LED光色失效的故障预测先进技术有了充分的了解，报告会后纷纷表示将继续关注并支持中心开办类似的产业培训活动。

（Pecht 教授答听众问）

此次技术专题报告会的圆满成功为中心举办类似的培训活动积累了宝贵的经验，不仅为本地产业带来先进技术的春风，还促进了本地LED行业的交流与合作。目前，中心正在积极联系相关的LED产业专家组织下一次实操性封装技术相关的专题报告会，详情请留意中心近期的主页增新。